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Fourniture d’un microscope FIB/SEM petits échantillons pour la préparation de lames TEM

L'équipement choisi sera dédié à la préparation d'échantillons, principalement des lamelles TEM provenant d'échantillons de semi-conducteurs. Ce microscope sera principalement utilisé pour : - La préparation d'échantillons o pour la microscopie électronique à transmission (TEM) sous forme de fines lamelles o pour la tomographie par sonde atomique (APT) et la tomographie électronique sous forme de fines sondes en forme d'aiguille - L'observation de sections transversales - L'observation et le contrôle de fines lamelles
CPV-Code: 31712100
Abgabefrist:
Typ: Contract award notice
Status: Not applicable
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: CEA/Grenoble
address: 17 Rue des Martyrs
postal_code: 38054
city: Grenoble Cedex 9 - FR
country: FR
email: None
phone: +33 659450565
contact_point: M. Anguéran Thirion
idate: 9. Januar 2024 09:22
udate: 9. Januar 2024 09:22
doc: 012381_2024.xml
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:012381-2024:TEXT:FR:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 09.01.2024
Erfüllungsort: Grenoble -
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 None
Gewinner FEI FRANCE SAS
Datum
Wert 1,00 €
Anzahl Angebote 2

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