Dostawa mikroskopu sił atomowych umożliwiającego pomiary automatyczne

Przedmiotem zamówienia jest zestaw mikroskopu sił atomowych (ang. atomic force microscope- AFM) umożliwiający pomiar topografii i innych właściwości podłoży oraz warstw epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych, w szczególności wytworzonych metodą MBE na podłożach GaN, składający się z: 1) Niezależnych skanerów w osi Z oraz XY przy czym skaner osi Z jest zintegrowany w głowicy mikroskopu, a skaner XY, jest elementem stolika skanującego. 2) Zautomatyzowanego stolika umożliwiającego pomiary podłoży o średnicy 2” , jak również pomiary mniejszych próbek. 3) Zestawu optycznego do podglądu próbki 4) Elektronicznego, cyfrowego kontrolera mikroskopu 5) Komory dźwiękochłonnej i aktywnej platformy antywibracyjnej. 6) Zestawu komputerowego Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się punkcie 3 SWZ
CPV-Code: 38514200
Abgabefrist: 20.11.2025
Typ: ContractNotice
Status: None
Aufgabe: None
Vergabestelle:
name: Instytut Wysokich Ciśnień Polskiej Akademii Nauk
address: ul. Sokołowska 29/37 Warszawa
postal_code: 01-142
city: Warszawa - PL
country: PL
email: dnicia@unipress.waw.pl
phone: +48226323628
contact_point: Dział zamówień publicznych +48226323628 dnicia@unipress.waw.pl
idate: 21. Oktober 2025 08:21
udate: 21. Oktober 2025 08:21
doc:
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/00691124-2025
Unterlagen: https://ezamowienia.gov.pl/mp-client/search/list/ocds-148610-b6e4a1a7-2aa4-4fbf-9f9d-e7240ca8f127
Zuschlagskriterium: quality
Vertrag: None
Prozedur: LocalLegalBasis
Nuts: None
Veröffentlichung: 20.10.2025
Erfüllungsort: Warszawa - PL
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 None
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None