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Microscope à force atomique à haute résolution AFM (Atomic Force Microscope) combiné avec un spectroscope IR (infrarouge) haute résolution.

Ein detailliertes Pflichtenheft kann über Simap.ch angefordert werden gemäß Art. 3.13. Kurzbeschrieb: Hoch auflösendes AFM (Atomic Force Microscope / Rasterkraftmikroskop) kombiniert mit einem hoch auflösenden IR (Infrarot) Spektroskop um die chemische Verteilung wie auch Eigenschaften der Mikrostruktur aufzuzeigen.
CPV-Code: 38510000
Abgabefrist: 13.03.2017
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: Empa
address: Ueberlandstraße 129
postal_code: 8600
city: Dübendorf - CH
country: CH
email: None
phone: None
contact_point: Reto Vogelbacher
idate: 29. Juni 2020 17:41
udate: 29. Juni 2020 17:41
doc: 045022_2017.xml
authority_types:
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:045022-2017:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: CH0
Veröffentlichung: 04.02.2017
Erfüllungsort: Dübendorf - CH
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Switzerland__Dübendorf__
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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