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Le présent avis de marché porte sur la phase de candidature menée dans le cadre d'une procédure d'appel d'offres restreint. Le CEA souhaite acquérir …

L'objet du marché consiste en la fourniture et l'installation d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FEG) à effet Schottky équipé d'une grande chambre, de manière à pouvoir recevoir une platine de déformation in-situ. Ce microscope sera équipé d'un détecteur d'imagerie en électrons rétrodiffusé (BSE) et d'un système d'analyse de texture locale (EBSD) couplé à un système de microanalyse chimique (EDS). Le marché comprend également en option la maintenance associée à l'ensemble des équipements.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 11.03.2014
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: CEA/Saclay
address: DSM-UCF service commercial, bâtiment 530
postal_code: 91191
city: Gif-sur-Yvette - FR
country: FR
email: None
phone: +33 169081216
contact_point:
idate: 21. Juni 2020 06:45
udate: 21. Juni 2020 06:45
doc: 047985_2014.xml
authority_types: BODY_PUBLIC
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:047985-2014:TEXT:FR:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supply contract
Prozedur: Restricted procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 12.02.2014
Erfüllungsort: Gif-sur-Yvette - FR
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 France__Gif-sur-Yvette__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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