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Il s'agit de la fourniture et l’installation d'un Microscope Electronique à Balayage avec canon à émission de champ (MEB- FEG) ainsi que les équipements qui lui sont associés, en remplacement du MEB LEO 1450VP acquis en 1999 et dont la maintenance n’est que partiellement assurée par son constructeur, ainsi que du système de microanalyse EDS-X. Cet appareil ayant été adapté à l’utilisation d’une platine de traction chauffante Newtec Scientific MT1000 avec visualisation optique, les spécificités techniques de son remplaçant devront intégrer les adaptations nécessaires à l’utilisation de cette même platine, sans que celle-ci ne subisse de modifications. Afin d’augmenter les fonctionnalités de l’appareil, un système d’analyse par diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD) est ajouté en option.

Fourniture d'un microscope électronique à balayage à canon à émission de champ

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