Ausschreibungen

Dans le cadre de ses travaux de recherche et développement sur le silicium pour des applications dans le domaine du photovoltaïque, le laboratoire Matériaux et Procédés pour le Solaire du CEA/LITEN souhaite pouvoir contrôler la teneur en impuretés de ses matériaux en faisant réaliser des analyses chimiques dans un laboratoire extérieur. Parmi ces impuretés, qui peuvent être présentes à l'état de traces, voire d'ultra-traces, on distingue les dopants du silicium (B, P), les éléments métalliques et les éléments légers (O, C, N...). Ces impuretés devront être analysées au moyen des techniques suivantes: — ICP-OES (Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectrometry), — ICP-MS (Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry), — GDMS (Glow Discharge Mass Spectrometry), — IGA (Interstitial Gas Analysis), — SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry).

Prestations d'analyse de pureté du silicium.

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