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Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for biological Specimens

A high resolution field emission scanning electron microscope (SEM) equipped with a focused ion beam (FIB) for serial block face and section imaging of plastic embedded biological specimens.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist:
Typ: Contract award notice
Status: Not applicable
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: University of Helsinki
address: PL 4 (yliopistonkatu 3)
postal_code: 00014
city: Helsinki - FI
country: FI
email: None
phone: None
contact_point:
idate: 1. April 2021 01:29
udate: 1. April 2021 01:29
doc: 104562_2021.xml
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:104562-2021:TEXT:EN:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 02.03.2021
Erfüllungsort: Helsinki -
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 None
Gewinner Carl Zeiss Oy
Datum
Wert 775 000,00 €
Anzahl Angebote 4

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