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Los Nr 2 Dossier 1006-3372 / Focussed Ion Beam Scanning Electron Microscope. L'UNIL, représentée en la matière par l’EPFL, entend acquérir un microscope à double colonne, électronique et faisceau d’ions focalisés pour la plateforme de microscopie électronique (PME) dirigée par Bruno Humbel, dans la faculté de biologie et Médecine. Le microscope, installé à l’UNIL sera utilisé par l’UNIL et l’EPFL dans le cadre de leur plateforme coordonnée de microscopie électronique. Le nouveau microscope sera utilisé pour étudier l’ultrastructure de matériaux biologiques en 2 et 3 dimensions. Les spécifications de l’instrument vont permettre à de nombreux utilisateurs d’imager des échantillons enrobés dans la résine ou cryo. La machine doit permettre de produire des images de simples cross sections ainsi que de grands volumes par la technique de tomographie FIB. Le microscope sera utilisé:— comme FIB-SEM: principalement utilisées sur des échantillons préparés traditionnellement par fixation, substitution à la résine et contrastage aux métaux lourds. Cela comprendra des cellules de culture, des bactéries, des tissus, des plantes, — pour la préparation de lames TEM pour échantillons de résine et cryo (Cemovis),— en mode SEM-STEM pour imager de grandes zones de sections minces dans la résine ou cryo. Il est indispensable que la machine puisse opérer sans supervision, avec remote control par réseau. Des séries d’images seront enregistrées durant de nombreuses heures (voire jours) et il est indispensable |
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FEI Europe BV, Eindhoven, Zweigniederlassung Zürich |
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None |
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1 |
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