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Rasterelektronenmikroskop in Kombination eines fokussierten Ionenstrahls

Systemlösung, die einen fokussierten Ionenstrahl (focused ion beam – FIB) in Kombination mit einem Rasterelektronenmikroskop (scanning electron microscope – SEM) bereitstellt. Hauptaufgabengebiete sind die Charakterisierung und Nanostrukturierung von teilweise lithographisch strukturierten und/oder chemisch synthetisierten, sowohl elektrisch leitfähigen wie auch nicht leitfähigen Substraten.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist:
Typ: Contract award notice
Status: Not applicable
Aufgabe: Education
Vergabestelle:
name: Friedrich-Schiller-Universität Jena
address: Fürstengraben 1
postal_code: 07743
city: Jena - DE
country: DE
email: None
phone: +49 3641931240
contact_point: Rudolf Imiella
idate: 25. Juni 2020 05:08
udate: 25. Juni 2020 05:08
doc: 151708_2016.xml
authority_types:
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:151708-2016:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: DEG03
Veröffentlichung: 03.05.2016
Erfüllungsort: Jena - DE
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 None
Gewinner FEI Deutschland GmbH
Datum
Wert None
Anzahl Angebote 3

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