Updates zu ähnlichen Ausschreibungen erhalten

Rasterelektronenmikroskop (SEM).

Leistungsgegenstand ist die Lieferung, funktionsbereite Aufstellung und Inbetriebnahme sowie Demonstration der Spezifikationen eines Raster-Elektronen-Mikroskops (SEM). Das Mikroskop soll auf einer thermischen Kathode als Emitter basieren wobei hier sowohl Standard-Wolframelemente genutzt werden können sollen als auch alternativ LaB6-Elemente für eine gesteigerte Auflösung. Das System soll universell im Bereich der Werkstoffanalyse und Analyse von biologischen Proben einsetzbar sein. Das Gerät soll einen Niedrigvakuummodus bieten, der auch die Analyse von nicht leitenden Proben erlaubt. Neben dem Standard-Detektor sollen ein Rückstreuelektonendetektor sowie ein EDX-Röntgenanalysesystem integriert sein. Des Weiteren ist eine einfache, automatisierte Bedienbarkeit des Systems inklusive eines automatischen Korrektur- und Navigationssystem gefordert, die eine benutzerfreundliche und übersichtliche Darstellung sowie schelle Analyse und Analysedarstellung der verschiedenen Messparameter ermöglichen.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 07.07.2014
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Education
Vergabestelle:
name: Universität Leipzig
address: Sachgebiet Beschaffung
postal_code: 04081
city: Leipzig - DE
country: DE
email: None
phone: +49 3419731003
contact_point:
idate: 30. Juni 2020 13:41
udate: 30. Juni 2020 13:41
doc: 176316_2014.xml
authority_types: BODY_PUBLIC
activities: EDUCATION
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:176316-2014:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supply contract
Prozedur: Open procedure
Nuts: DED31
Veröffentlichung: 27.05.2014
Erfüllungsort: Leipzig - DE
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Germany__Leipzig__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

Informiere dich täglich über neue
Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes

×

Geben Sie Ihre E-Mail Adresse an, um ein tägliches Update zu neusten Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes zu erhalten.

Indem Sie fortfahren, stimmen Sie unseren Datenschutz Richtlinien zu und nehmen zur Kenntnis, wie wir Ihre personenbezogenen Daten bearbeiten und Cookies einstellen