Updates zu ähnlichen Ausschreibungen erhalten

FIB-SEM-Nanocharakterisierungsplattform

FIB-SEM-Nanocharakterisierungsplattform
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 22.08.2023
Typ: Lieferleistungen
Status: Offenes Verfahren
Aufgabe: None
Vergabestelle:
name: Hochschule Hamm-Lippstadt
address: None
postal_code: 59557
city: Lippstadt - DE
country: DE
email: None
phone: None
contact_point: None
idate: 24. Juli 2023 11:01
udate: 24. Juli 2023 11:01
doc:
authority_types:
activities:
Quelle: https://www.service.bund.de/IMPORTE/Ausschreibungen/vmp-nrw/2023/07/180248.html
Unterlagen: IMPORTE/Ausschreibungen/vmp-nrw/2023/07/180248.html;jsessionid=BFE452D432DDD381CE46D9AA8C0D4785.2_c…
Zuschlagskriterium: None
Vertrag: None
Prozedur: Vergabeverordnung (VgV)
Nuts: None
Veröffentlichung: 23.07.2023
Erfüllungsort: Lippstadt - DE
Link: IMPORTE/Ausschreibungen/vmp-nrw/2023/07/180248.html;jsessionid=BFE452D432DDD381CE46D9AA8C0D4785.2_cid288?nn=4641474#location-map
Lose:
Name Los Nr 1 FIB-SEM-Nanocharakterisierungsplattform
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

Informiere dich täglich über neue
Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes

×

Geben Sie Ihre E-Mail Adresse an, um ein tägliches Update zu neusten Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes zu erhalten.

Indem Sie fortfahren, stimmen Sie unseren Datenschutz Richtlinien zu und nehmen zur Kenntnis, wie wir Ihre personenbezogenen Daten bearbeiten und Cookies einstellen