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A Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope (FIB/SEM) System

A Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope (FIB/SEM) system.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 20.05.2019
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Education
Vergabestelle:
name: Uppsala universitet
address: Uppsala universitet Dag Hammarskjölds väg 7
postal_code: 752 37
city: Uppsala - SE
country: SE
email: None
phone: +46 184717731
contact_point: Marie Edberg
idate: 27. Juni 2020 15:04
udate: 27. Juni 2020 15:04
doc: 180254_2019.xml
authority_types:
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:180254-2019:TEXT:EN:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 17.04.2019
Erfüllungsort: Uppsala - SE
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Sweden__Uppsala__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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