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Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) - Gebrauchtgerät

Zweistrahlgerät Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB / SEM) bzw. hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) - Gebrauchtgerät
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 23.05.2022
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Education
Vergabestelle:
name: Freistaat Bayern, vertreten durch Ostbayerische Technische Hochschule Regensburg
address: Prüfeninger Straße 58
postal_code: 93049
city: Regensburg - DE
country: DE
email: None
phone: +49 9419439430
contact_point: Meinlschmidt, Tobias
idate: 27. April 2022 10:19
udate: 27. April 2022 10:19
doc: 217427_2022.xml
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:217427-2022:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: https://www.evergabe.bayern.de/evergabe.bieter/DownloadTenderFiles.ashx?subProjectId=vEd5iYoGo%252f…
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 26.04.2022
Erfüllungsort: Regensburg -
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Germany__Regensburg__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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