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El desarrollo de elementos ópticos no lineales para el sistema de Petawatio va a exigir el micro- y nanoestructurado de materiales diversos que se llevará a cabo con las fuentes de menor potencia del CLPU. Debido a la precisión requerida, es fundamental contar con una herramienta que permita la observación y verificación de las muestras de forma rápida y fiable. La microscopía electrónica de barrido es la técnica ideal para este fin. Teniendo en cuenta que la gran mayoría de estos materiales serán dieléctricos o semiconductores, el equipo a adquirir ha de garantizar que se puedan observar sin necesidad de metalización previa, lo que arruinaría la muestra. Por eso, se especifica que el microscopio trabaje en régimen de presión variable. Es fundamental que el microscopio tenga la capacidad de funcionar en modo de transmisión para poder observar muestras delgadas transparentes o para el estudio de recubrimientos de elementos ópticos o redes de difracción en volumen. En cuanto a los demás sistemas de detección, se especifican los sistemas habituales. Por otra parte, muchas de las piezas a analizar pueden tener tamaños apreciables, lo que obliga a solicitar un sistema con una cámara de capacidad suficiente.

Suministro, entrega e instalación de un microscopio electrónico de barrido con sistema de presión variable para observación de muestras conductoras y…

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