L'EPFL entend acquérir un microscope électronique à balayage à haute-résolution qui sera installé au centre interdisciplinaire de microscopie électro…

Raisons de la décision d'adjudication: L'équipement choisi présente la meilleure adéquation à nos besoins actuels et prévisibles (protection de l'investissement), compte tenu de l'évolution rapide des exigences liées à la recherche. Indication des voies de recours: Conformément à l’art. 30 LMP, la présente publication peut être attaquée, dans un délai de 20 jours à compter de sa notification, auprès du Tribunal administratif fédéral, case postale, 3000 Berne 14. Le mémoire de recours, à présenter en deux exemplaires, indiquera les conclusions, motifs et moyens de preuve et portera la signature de la partie recourante ou de son mandataire; y seront jointes une copie de la présente publication et les pièces invoquées comme moyens de preuve, lorsqu’elles sont disponibles. Publication de référence nationale: SIMAP de la 21.7.2011, doc. 661161.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist:
Typ: Contract award
Status: Not applicable
Aufgabe: None
Vergabestelle:
name: Center of MicroNanoTechnology (CMi)
address: bâtiment BM 1.125 - station 17
postal_code: 1015
city: Lausanne - CH
country: CH
email: None
phone: None
contact_point:
idate: 14. Juni 2020 18:02
udate: 14. Juni 2020 18:02
doc: 232379_2011.xml
authority_types: BODY_PUBLIC
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:232379-2011:TEXT:FR:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: Not defined
Vertrag: Supply contract
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 23.07.2011
Erfüllungsort: Lausanne - CH
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 L'EPFL entend acquérir un microscope électronique à balayage à haute-résolution qui sera installé au centre interdisciplinaire de microscopie électronique (CIME). Ce nouveau microscope servira à étudier la micro et nano-structure ainsi que la composition chimique et la topographie d’échantillon en physique, chimie, sciences des matériaux et biologie. Il sera utilisé par un nombre limité d’utilisateurs expérimentés (~30). Les échantillons qui devront être observes en haute resolution incluent: semiconducteurs, métaux (y compris magnétiques), isolants (tells que céramiques, verres et matériaux composites), matériaux sensibles à l’irradiation (polymères), matériaux biologiques (cellules et tissues après preparation), ansi que des combinaisons de ces divers matériaux. Le microscope doit permettre aux utilisateurs de travailler avec une grande efficacité sur leurs échantillons (grand débit, bonne stabilité). Le besoin d’étudier un grand nombre d’échantillons par session (typiquement 4h) requiert un système avec une bonne stabilité mécanique (drift) et électronique (alignements) ainsi qu’un système EDX efficace et rapide. L’instrument doit permettre de réaliser les opérations grâce à une interface utilisateur intégrée qui puisse être adaptée au niveau de training de l’utilisateur et à ses besoins. Techniques (non exclusivement): Images en SE à faible grandissement: Inspection de la topographie de l’échantillon à faible grandissement avec un détecteur SE Everhard-Thornley standard.
Gewinner Gloor Instruments AG
Datum
Wert None
Anzahl Angebote 1