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Fourniture d'un équipement de type FIB "Focused ION BEAM".

L’équipement SEM/FIB doit permettre la micro et/ou nanofabrication d’échantillons par exemple composites en deux ou trois dimensions. Il combine par conséquent une colonne ionique permettant de creuser localement l’échantillon à des échelles micro et/ou nanométrique et la présence d’un système d’injecteurs de gaz (minimum 6) nécessaires au micro et/ou nano-dépôts inorganiques ou organiques assistés par faisceau d’ions localisés. Le FIB devra intégrer également la faculté de suivre en temps réel la fabrication du micro et/ou nano-objet grâce à l’imagerie MEB haute-résolution. Enfin, un analyseur EDX permettant l’analyse et la cartographie chimique 3D des nanostructures fabriquées devra en outre être intégré.

CPV-Code:

38511100

Abgabefrist:

13.09.2011

Typ:

Contract notice

Status:

Not defined

Aufgabe:

None

Vergabestelle:

name:	Centre de recherche public - Gabriel Lippmann, service achats
address:	41, rue du Brill
postal_code:	4422
city:	Belvaux - LU
country:	LU
email:	None
phone:	+352 470261371
contact_point:
idate:	14. Juni 2020 18:26
udate:	14. Juni 2020 18:26
doc:	232643_2011.xml
authority_types:
activities:

Quelle:

http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:232643-2011:TEXT:FR:HTML

Unterlagen:

None

Zuschlagskriterium:

The most economic tender

Vertrag:

Supply contract

Prozedur:

Open procedure

Nuts:

None

Veröffentlichung:

23.07.2011

Erfüllungsort:

Belvaux - LU

Link:

Lose:

Name	Los Nr 1 L__Belvaux__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner	None
Datum
Wert	None
Anzahl Angebote	None

Fourniture d'un équipement de type FIB "Focused ION BEAM".

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