Updates zu ähnlichen Ausschreibungen erhalten

Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de…

L'Institut de recherche interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG). Cet équipement sera installé sur la Plate-forme de Nano. Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une résolution inférieure à 15 nm et la nano-tomographie de grands volumes d’échantillons. Le MEB-FEG permettra l’imagerie électronique à haute résolution. Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de recherche dans le domaine des nanosciences, des applications micro et nano technologies et de la science des matériaux. Les prestations de maintenance associées prennent la forme d'une tranche optionnelle.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 02.06.2021
Typ: Additional information
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: L’institut polytechnique de Grenoble
address: 46 avenue Félix Viallet
postal_code: 38031
city: Grenoble Cedex 1 - FR
country: FR
email: None
phone: +33 476574522
contact_point:
idate: 1. Juni 2021 05:14
udate: 1. Juni 2021 05:14
doc: 235651_2021.xml
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:235651-2021:TEXT:FR:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 11.05.2021
Erfüllungsort: Grenoble -
Link:
Lose:
Name Los Nr 1
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

Informiere dich täglich über neue
Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes

×

Geben Sie Ihre E-Mail Adresse an, um ein tägliches Update zu neusten Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes zu erhalten.

Indem Sie fortfahren, stimmen Sie unseren Datenschutz Richtlinien zu und nehmen zur Kenntnis, wie wir Ihre personenbezogenen Daten bearbeiten und Cookies einstellen