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Kombiniertes Focused-Ion-Beam-Mikroskop (FIB) – Rasterelektronenmikroskop (SEM) und vierjähriger Wartungsvertrag

Lieferung und Installation eines Kombinierten Focused-Ion-Beam-Mikroskop (FIB) – Rasterelektronenmikroskop (SEM) und ein Wartungsvertrag für das Gerät über 4 Jahre.
CPV-Code: 38512100
Abgabefrist:
Typ: Contract award notice
Status: Not applicable
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e. V. -Max-Planck-Institut für Festkörperforschung
address: Heisenbergstr. 1
postal_code: 70569
city: Stuttgart - DE
country: DE
email: None
phone: +49 711689-1229
contact_point:
idate: 2. Juli 2020 19:11
udate: 2. Juli 2020 19:11
doc: 236854_2017.xml
authority_types:
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:236854-2017:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Negotiated without a prior call for competition
Nuts: None
Veröffentlichung: 22.06.2017
Erfüllungsort: Stuttgart - DE
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 None
Gewinner FEI Deutschland GmbH
Datum
Wert None
Anzahl Angebote 1

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