Ausschreibungen

Das höchst-auflösende Rasterelektronenmikroskop (FEI Magellan 400) soll mit einem integrierten System zur Mikrobereichsanalyse ausgestattet werden, mit Schwerpunkt auf Anwendungen für polykristalline und polyphasige Materialien im Nanobereich. a) EDX (Energie-dispersive Röntgen-Spektroskopie). — 1 oder 2 SDD-Detektoren in optimaler Geometrie für maximalen erfassten Raumwinkel; — Simultane Analyse und Abbildung mit CBS und STEM Detektoren; — Variabler Arbeitsabstand mindestens zwischen WD = 4 mm und WD = 10 mm; — Software für Punktanalyse (ohne und mit Standards) sowie für spektrales Map-ping und spektrale Line-Scans; — Software für automatische spektrale Mappings an verschiedenen vordefinierten Probenstellen. b) EBSD (Elektronen-Rückstreubeugung). — Schneller Detektor in optimaler Geometrie für maximalen erfassten Raumwinkel; — Simultane Analyse und Abbildung mittels SE, BSE und FSE Detektoren; — Optimaler Arbeitsabstand kompatibel mit simultaner EDX+EBSD (Probenbühne Kippwinkel 60°) sowie EDX+TKD Analyse (Kippwinkel 0°); — Software für schnelle Mappings (auch Mosaik-Scans) unter Speicherung der Rohdaten zur Nachbearbeitung; — Einbindung von kristallographischen Datenbanken zur Phasenidentifikation. Zusätzliche Optionen: c) µ-XRF (Mikro-Röntgen-Fluoreszenz-Spekroskopie) sowie CL (Kathodo-Lumineszenz) Integration gewünscht als erweiterte Option bzw. gesicherte nachrüstbare Option. Spezielle Beachtung finden: — Leistungsfähigkeit bei niedrigen Anregungsspannungen, Empfindlichkeit im Leicht-Element-Bereich; — Integration der Komponenten, simultane Verfügbarkeit, einfache Wechsel zwischen Operations-Modi; — Einsetzbarkeit in multi-Nutzer-, multi-Anwendungs-Umgebung. Details siehe Pflichtenheft.

Système de micro-analyse (extension) pour microscope électronique à balayage (MEB).

Informiere dich täglich über neue Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes

Informiere dich täglich über neue
Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes