Benötigt wird ein (1) Rasterkraftmikroskop zur topografischen Analyse (AFM-Imaging) und für Reibungsmessungen mit höchster AFM-Auflösung an Luft sowie in Flüssigkeiten. Unbedingt erforderlich sind AFM-Messköpfe, die jeweils für die besonderen Messaufgaben optimiert sind. Weiterhin ist ein AFM-Messkopf erforderlich, der über einen umfangreichen Scanbereich mit niedrigem Rauschsignal verfügt. Das Gerätesystem muss sich zudem mit modernen (fluoreszenz-) mikroskopischen Verfahren kombinieren lassen. Die einzelnen geforderten Mindestanforderungen zum Gerät können den Vergabeunterlagen entnommen werden.
| CPV-Code: |
38511100
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| Abgabefrist: |
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| Typ: |
Contract award notice |
| Status: |
Not applicable |
| Aufgabe: |
Not specified |
| Vergabestelle: |
| name: |
Friedrich-Schiller-Universität Jena |
| address: |
Fürstengraben 1 |
| postal_code: |
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| city: |
Jena - DE |
| country: |
DE |
| email: |
None |
| phone: |
None |
| contact_point: |
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| idate: |
18. Juni 2020 13:09 |
| udate: |
18. Juni 2020 13:09 |
| doc: |
259294_2016.xml |
| authority_types: |
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| activities: |
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| Quelle: |
http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:259294-2016:TEXT:DE:HTML |
| Unterlagen: |
None |
| Zuschlagskriterium: |
Lowest price |
| Vertrag: |
Supplies |
| Prozedur: |
Open procedure |
| Nuts: |
DE |
| Veröffentlichung: |
27.07.2016 |
| Erfüllungsort: |
Jena - DE |
| Link: |
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| Lose: |
| Name |
Los Nr 1 Rasterkraftmikroskop |
| Gewinner |
JPK Instruments AG |
| Datum |
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| Wert |
None |
| Anzahl Angebote |
1 |
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