EPFL a l’intention d’acquérir un équipement de microscopie électronique à balayage (SEM) pour son Centre de micro et nano technologie (CMi). Cet équi…

Raisons de la décision d'adjudication: l'équipement choisi présente la meilleure adéquation à nos besoins actuels et prévisibles (protection de l'investissement), compte tenu de l'évolution rapide des exigences liées à la recherche. Indication des voies de recours: conformément à l’article 30 LMP, la présente publication peut être attaquée, dans un délai de 20 jours à compter de sa notification, auprès du tribunal administratif fédéral, case postale, 3000 Berne 14, SUISSE. Le mémoire de recours, à présenter en 2 exemplaires, indiquera les conclusions, motifs et moyens de preuve et portera la signature de la partie recourante ou de son mandataire; y seront jointes une copie de la présente publication et les pièces invoquées comme moyens de preuve, lorsqu’elles sont disponibles. Publication de référence nationale: Simap du 16.8.2011, doc. 661151.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist:
Typ: Contract award
Status: Not applicable
Aufgabe: None
Vergabestelle:
name: Center of MicroNanoTechnology (CMi)
address: bâtiment BM 1.125 - station 17
postal_code: 1015
city: Lausanne - CH
country: CH
email: None
phone: None
contact_point:
idate: 16. Juni 2020 01:22
udate: 16. Juni 2020 01:22
doc: 261034_2011.xml
authority_types: BODY_PUBLIC
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:261034-2011:TEXT:FR:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: Not defined
Vertrag: Supply contract
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 18.08.2011
Erfüllungsort: Lausanne - CH
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 EPFL a l’intention d’acquérir un équipement de microscopie électronique à balayage (SEM) pour son Centre de micro et nano technologie (CMi). Cet équipement sera dédié à la recherche de pointe dans les domaines de la micro et nano-fabrication. Le CMi est une installation salle blanche centrale pour l’ensemble des facultés de l’EPFL ainsi que pour les industriels locaux qui est réservée pour les utilisateurs travaillant dans la micro et nano-fabrication. Nous avons plus de 100 nouveaux utilisateurs par année et approximativement 150 utilisateurs actifs. Le SEM est notre principal outil de métrologie pour la caractérisation en cours de process. Nous avons typiquement 10 à 14 utilisateurs par jour sur notre équipement actuel et l’équipement est utilisé à plus de 80 % du temps disponible. Par conséquent, une grande importance sera accordée non seulement à la qualité de l’imagerie mais également à la flexibilité de l’équipement, à sa facilité d’utilisation, à sa simplicité / rapidité d’apprentissage pour les nouveaux utilisateurs et la vitesse de chargement des échantillons. Au vu des besoins de la faculté des sciences et techniques de l’ingénieur (STI) et des buts du laboratoire CMi, une attention particulière sera placée la caractérisation topologique d’échantillons de micro / nano fabrication dans les domaines de recherche suivants: — matériaux conducteurs et semi-conducteurs, — les profils après gravure plasma, — les matériaux isolants, — les matériaux sensibles au faisceau éle
Gewinner Gloor Instruments AG
Datum
Wert None
Anzahl Angebote 1