Updates zu ähnlichen Ausschreibungen erhalten

NL-Petten: Nabava i održavanje fokusiranog snopa iona na dvosnopnoj plazmi — skenirajući elektronski mikroskop s emisijom polja (pFIB — SEM)

Med det formål at udføre klargøring på stedet af kontaminationsfri prøver med store områder samt billeddannelse og analyse i høj opløsning har JRC Petten til hensigt at indkøbe et dobbeltstrålet mikroskop (pFIB-SEM — Plasma Focused Ion Beam — Field Emission Scanning Electron Microscope), der anvender induktivt koblet plasma som kilde til ionstrålen (pFIB) og en feltemissions-elektronstråle som kilde til elektron-billeddannelse. pFIB-SEM-infrastrukturen vil støtte videnskabelige aktiviteter inden for nuklear sikkerhed og nuklear videnskabs medicinske anvendelser. Systemet vil, til dette formål, inkludere detektorer til energidispersiv røntgen (EDX — Energy Dispersive X-ray), elektron-tilbagesprednings diffraktion (EBSD — Electron Backscatter Diffraction) og scanning-transmissions elektron-mikroskop (STEM — Scanning-Transmission Electron Microscope) og give mulighed for mikrobearbejdning af mikromekaniske prøver, TEM-lamel klargøring af metaller og biologiske materialer samt 3D-rekonstruktioner af uorganiske materialer og celler.
CPV-Code: 38512100
Abgabefrist: 08.07.2019
Typ: Additional information
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: Europa-Kommissionen, JRC — Joint Research Centre, JRC.G — Nuclear Safety and Security (Karlsruhe), JRC.G.I.4 — Nuclear Reactor Safety and Emergency Preparedness
address: Westerduinweg 3
postal_code: 1755 LE
city: Petten - NL
country: NL
email: None
phone: None
contact_point: Aneta Jukneviciene
idate: 28. Juni 2020 01:22
udate: 28. Juni 2020 01:22
doc: 264184_2019.xml
authority_types:
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:264184-2019:TEXT:DA:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 07.06.2019
Erfüllungsort: Petten - NL
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Netherlands__Petten__NL-Petten: Lieferung und Wartung eines Zweistrahl-Plasma fokussierten Ionenstrahls-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (Dual Beam Plasma Focused Ion Beam Field Emission Scanning Electron Microscope - pFIB - SEM)
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

Informiere dich täglich über neue
Ausschreibungen zum Thema Ion microscopes

×

Geben Sie Ihre E-Mail Adresse an, um ein tägliches Update zu neusten Ausschreibungen zum Thema Ion microscopes zu erhalten.

Indem Sie fortfahren, stimmen Sie unseren Datenschutz Richtlinien zu und nehmen zur Kenntnis, wie wir Ihre personenbezogenen Daten bearbeiten und Cookies einstellen