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Système Focused Ion Beam — SEM (FIB-SEM).

Die EPFL beabsichtigt ein Focused Ion Beam – SEM (FIB-SEM) für das Elektronenmikroskopiezentrum CIME anzuschaffen. Dieses Gerät dient der Untersuchung von Mikro- mund Nano-Strukturen, der chemischen Zusammensetzung und der Morphologie von Proben im Bereich Chemie, Materialforschung sowie Lebenswissenschaften. Der Bereich der zu untersuchenden Proben umfasst Halbleiter, Metalle, nicht-leitende Materialien (wir Keramiken, Gläser und Ferbindwerkstoffe), Strahlempfindliche Materialien (Polimere, organische Materialien usw.) sowie Kombination aus diesen Stoffen. Das Gerät wird in einem Zentrum mit vielen Benutzern betrieben und soll effizientes Arbeiten ermöglichen (hoher Durchsatz und hohe Stabilität). Der Haupteinsatzbereich wird FIB-Nanotomographie sein.

CPV-Code:

38511100

Abgabefrist:

14.08.2017

Typ:

Contract notice

Status:

Submission for all lots

Aufgabe:

Other

Vergabestelle:

name:	Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne Vice-présidence pour la recherche VPR DAR ECO
address:	BI A2 453 (Bâtiment BI) Station 7
postal_code:	1015
city:	Lausanne - CH
country:	CH
email:	None
phone:	None
contact_point:	Jérôme Butty
idate:	3. Juli 2020 19:11
udate:	3. Juli 2020 19:11
doc:	265050_2017.xml
authority_types:
activities:

Quelle:

http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:265050-2017:TEXT:DE:HTML

Unterlagen:

None

Zuschlagskriterium:

The most economic tender

Vertrag:

Supplies

Prozedur:

Open procedure

Nuts:

CH0

Veröffentlichung:

08.07.2017

Erfüllungsort:

Lausanne - CH

Link:

Lose:

Name	Los Nr 1 Switzerland__Lausanne__
Gewinner	None
Datum
Wert	None
Anzahl Angebote	None

Système Focused Ion Beam — SEM (FIB-SEM).

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