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Raster-Elektronen-Mikroskop mit EDX-Detektor.

Raster-Elektronen-Mikroskop mit EDX-Detektor mit folgenden Mindestanforderungen — Rasterelektronenmikroskop für Hochvakuumbetrieb und variablen Druckbereich (10 … ca. 700 Pa); Druckeinstellung ohne Wechsel der Druckreduzierblenden bis mind. ca. 125 Pa — computergesteuert, inkl. mind. 19“-Flachbildschirm — ergonomische Bedienerkonsole mit integrierter Tastatur und Joystick zur Probenbewegung — LaB6-Kathode (optional auch W-Kathode nutzbar) — Säulenaufheizmanschette — ölfreies Pumpensystem — für mind. Probengröße 250 mm (Durchmesser) x 140 mm (Höhe) — großes Bildfeld (6mm bei 8.5mm Arbeitsabstand, mind. 40mm bei maximalem Arbeitsabstand) — Probenbühne: Vollmotorisiert, mind. 5 Achsen, X/Y mind. 120mm, Z mind. 50mm, Tilt mind. -10 bis 90°, 360° kontinuierliche Rotation, mind. 500g Probengewicht (gekippt), mind. 2 kg Probengewicht (ungekippt) — Kammer-Sekundärelektronen-Detektor (Everhart-Thornley) für Hochvakuum — Rückziehbarer Rückstreuelektronendetektor mit mind. 5 Segmenten — SE-Detektor für Niedervakuummodus — Beschleunigungsspannungen im Bereich 0.2kV-30kV, in feinen Schritten regelbar (10V) — Probenstrom von 0.5pA bis 5µA — Auflösung (SE): 2 nm bei 30 kV im Hochvakuum 10 nm bei 3 kV im Hochvakuum 3,5 nm bei 30 kV im variablen Druckbereich — Option der Beam-Deceleration (bis 5 kV Gegenspannung an Probe) — Vakuum-Trennventil für Elektronensäule (incl. Ionen-Getter-Pumpe) — reduzierte Elektronenstreuung bei variablem Druck (‚Beam gas path length‘ max. 2mm) — Aperturblendenwechsler mit mind. 3 Blenden mit automatischer, softwaregesteuerter Blendenausrichtung — automatische Strahlzentrierung — zusätzliche Flansche für Erweiterung auf vollfokussierendes WDX, EBSD — Infrarotkamera zur Übersicht in der Probenkammer — digitaler Bildspeicher (Auflösung mind. 3000 x 2000 Bildpunkte), Erweiterungsmöglichkeit auf 40.000x40.000 Bildpunkte — Möglichkeit zur korrelativen Mikroskopie mit dem vorhandenen CLSM 700, inkl. Probenhalterung und Softwarelösung zur Wiedererkennung und Wiederauffindung von Probenstellen (mind. 20µm Präzision) — mind. 10 Scangeschwindigkeiten — Software zur Bildbearbeitung, -zentrierung und -vermessung (3D-Messung und -Visualisierung, Profil- und Rauheitsmessung) — EDX-Detektor (SDD) mit Drift-Korrektur (mind. 30 mm 2 , FWHM < 126 eV für Mn-Kα) für Spot, Flächen-, Linienanalysen und Mappings) incl. Analyse- und Auswertesoftware Weitere Bedingungen und Leistungen gemäß Leistungsbeschreibung der anzufordernden Verdingungsunterlagen.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 02.11.2015
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Education
Vergabestelle:
name: Westsächsische Hochschule Zwickau, Dezernat Technik
address: Dr.-Friedrichs-Ring 2A
postal_code: 08056
city: Zwickau - DE
country: DE
email: None
phone: +49 3755361130
contact_point: Beschaffungswesen
idate: 28. Juni 2020 21:12
udate: 28. Juni 2020 21:12
doc: 320700_2015.xml
authority_types: BODY_PUBLIC
activities: EDUCATION
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:320700-2015:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: DED13
Veröffentlichung: 12.09.2015
Erfüllungsort: Zwickau - DE
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Germany__Zwickau__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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