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Analytisches Rasterelektronenmikroskop

The analytical scanning electron microscope must provide different imaging modalities and advanced analytical capabilities (EDS and EBSD) for detailed characterisation of different materials and at different length scales. The new instrument will be a multi-user and multi-purpose microscope, allowing easy switching between different modes of operation.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 05.08.2021
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Education
Vergabestelle:
name: Empa
address: Ueberlandstrasse 129
postal_code: 8600
city: Dübendorf - CH
country: CH
email: None
phone: None
contact_point: Oertig Martin
idate: 25. Juni 2021 08:20
udate: 25. Juni 2021 08:20
doc: 322177_2021.xml
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:322177-2021:TEXT:EN:HTML
Unterlagen: http://www.simap.ch/shabforms/servlet/Search?NOTICE_NR=1203831
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 25.06.2021
Erfüllungsort: Dübendorf -
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Switzerland__Dübendorf__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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