FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) mit EDX (Energy Dispersive X-ray)
| CPV-Code: |
38511100
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| Abgabefrist: |
14.07.2022 |
| Typ: |
Contract notice |
| Status: |
Submission for all lots |
| Aufgabe: |
Education |
| Vergabestelle: |
| name: |
Technische Universität München - Munich Institute of Biomedical Engineering |
| address: |
Arcisstraße 21 |
| postal_code: |
80333 |
| city: |
München - DE |
| country: |
DE |
| email: |
None |
| phone: |
None |
| contact_point: |
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| idate: |
17. Juni 2022 10:24 |
| udate: |
17. Juni 2022 10:24 |
| doc: |
324605_2022.xml |
| authority_types: |
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| activities: |
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| Quelle: |
https://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:324605-2022:TEXT:DE:HTML |
| Unterlagen: |
https://www.dtvp.de/Satellite/notice/CXP4YK0R8W7/documents |
| Zuschlagskriterium: |
The most economic tender |
| Vertrag: |
Supplies |
| Prozedur: |
Open procedure |
| Nuts: |
None |
| Veröffentlichung: |
17.06.2022 |
| Erfüllungsort: |
München - |
| Link: |
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| Lose: |
| Name |
Los Nr 1 Germany__München__Rasterelektronenmikroskope |
| Gewinner |
None |
| Datum |
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| Wert |
None |
| Anzahl Angebote |
None |
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