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Focused Ion Beam (FIB) System zur Präparation von Querschnitten und TEM Lamellen

Für die Untersuchung von Dünnschichtmembranen mittels Transmissionselektronenmikroskopie wird ein automatisiertes System für Focused Ion Beam (FIB)-Prozesse für High-Thruoghput TEM Lamellen Präparationen benötigt. Es sollen Polituren und Schnitte erzeugt werden, durch die eine aufgesputterte Schicht inklusive Substrat auf mikroskopischer Ebene detailliert untersucht werden können hinsichtlich ihrer Homogenität, Korngrößen und Schichtdicken.
CPV-Code: 38512100
Abgabefrist:
Typ: Contract award notice
Status: Not applicable
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: Leibniz-Institut für Plasmaforschung und Technologie e.V.
address: Felix-Hausdorff-Str. 2
postal_code: 17489
city: Greifswald - DE
country: DE
email: None
phone: +49 38345543974
contact_point:
idate: 29. Juni 2021 08:15
udate: 29. Juni 2021 08:15
doc: 325748_2021.xml
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:325748-2021:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 29.06.2021
Erfüllungsort: Greifswald -
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 None
Gewinner FEI Deutschland GmbH
Datum
Wert 329 000,00 €
Anzahl Angebote 2

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