Ausschreibungen

Updates zu ähnlichen Ausschreibungen erhalten

Kombinovaný elektronový a iontový mikroskop – FIB s příslušenstvím.

Předmětem dodávky je kombinovaný elektronový a iontový mikroskop (FIB) s možností pozorování vzorku pomocí sekundárních i zpětně odražených elektronů. Mikroskop bude vybaven dvěma manipulátory pro přípravu lamel pro TEM a provádění elektrických měření. Softwarové vybavení bude umožňovat 3D rekonstrukci studovaného materiálu a kreslení elektronovým a iontovým svazkem - litografii. Mikroskop bude vybaven detektory EDS typu SDD, EBSD, STEM, EBIC a SIMS typu TOF. Mikroskop umožňuje prácí i v nízkovakuovém modu pro pozorování nevodivých vzorků.

CPV-Code:

38512100

Abgabefrist:

Typ:

Contract award

Status:

Not applicable

Aufgabe:

Education

Vergabestelle:

name:	Vysoká škola chemicko-technologická v Praze
address:	Technická 1905/5
postal_code:
city:	Praha - CZ
country:	CZ
email:	None
phone:	None
contact_point:
idate:	17. Juni 2020 04:42
udate:	17. Juni 2020 04:42
doc:	331275_2012.xml
authority_types:	BODY_PUBLIC
activities:	EDUCATION

Quelle:

http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:331275-2012:TEXT:CS:HTML

Unterlagen:

None

Zuschlagskriterium:

Lowest price

Vertrag:

Supply contract

Prozedur:

Negotiated without a call for competition

Nuts:

CZ010

Veröffentlichung:

19.10.2012

Erfüllungsort:

Prag - CZ

Link:

Lose:

Name	Los Nr 1 Kombinovaný elektronový a iontový mikroskop – FIB s příslušenstvím.
Gewinner	Tescan a.s.
Datum
Wert	16 800 000,00 Kč
Anzahl Angebote	1

Kombinovaný elektronový a iontový mikroskop – FIB s příslušenstvím.

Informiere dich täglich über neue Ausschreibungen zum Thema Ion microscopes

Informiere dich täglich über neue
Ausschreibungen zum Thema Ion microscopes