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Hochauflösendes Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop

Powerful dual beam device consisting of focused ion beam (gallium) and field emission scanning electron microscope. Applicable for wide range in sample preparation and characterization in micro- and nanoscale (for details see specification documentation).
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 22.08.2019
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Education
Vergabestelle:
name: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich Abt. Finanzdienstleistungen
address: Scheuchzerstrasse 70, SEW E 21
postal_code: 8092
city: Zürich - CH
country: CH
email: None
phone: None
contact_point: Einkaufskoordination
idate: 21. Juni 2020 13:29
udate: 21. Juni 2020 13:29
doc: 336335_2019.xml
authority_types:
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:336335-2019:TEXT:EN:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 17.07.2019
Erfüllungsort: Zürich - CH
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Switzerland__Zürich__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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