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Rasterelektronenmikroskop und ein FIB-REM

Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS sucht für das Center für Angewandte Mikrostrukturdiagnostik CAM zur elektrischen Charakterisierung und zur elektronenstrahlbasierten Defektlokalisierung an mikroelektronischen Schaltkreisstrukturen ein Rasterelektronenmikroskop (REM), nachfolgend als „Los 1“ bezeichnet, sowie zur mikrostrukturellen Untersuchung von Materialien der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik eine fokussierende Ionenstrahlanlage (FIB) mit integriertem Rasterelektronenmikroskop (REM) als kombinierte Zweistrahlanlage, nachfolgend „Los 2“ genannt.
CPV-Code: 38512100
Abgabefrist: 11.07.2018
Typ: Additional information
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal deutsche eVergabe
address: Hansastr. 27c
postal_code: 80686
city: München - DE
country: DE
email: None
phone: None
contact_point:
idate: 24. Juni 2020 01:22
udate: 24. Juni 2020 01:22
doc: 358323_2018.xml
authority_types:
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:358323-2018:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 16.08.2018
Erfüllungsort: München - DE
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Germany__München__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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