Ausschreibungen

1. Przedmiotem zamówienia objętym niniejszym postępowaniem jest dostawa wysokorozdzielczego skaningowego mikroskopu elektronowego z emisją polową (HR-FE-SEM) wraz systemem cryo na potrzeby realizacji projektu Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka 2007-2013, współfinansowanego z Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego na warunkach określonych w Szczegółowym opisie przedmiotu zamówienia (SOPZ), stanowiącym załącznik nr 3 do SIWZ oraz wzorze umowy, stanowiącym załącznik nr 9 do SIWZ. 2. Jeżeli w opisie przedmiotu zamówienia lub gdziekolwiek w SIWZ użyto nazwy standardu, klasy lub benchmarku określającego funkcjonalności sieci lub inne, który może być rozumiany jako wskazanie normy w rozumieniu art. 30 ustawy, Zamawiający dopuszcza zastosowanie rozwiązań równoważnych opisywanym, gwarantujących osiągnięcie parametrów nie gorszych niż opisane w dokumentacji projektowej. W takim przypadku, zgodnie z art. 30 ust. 5 ustawy, Wykonawca, który powołuje się na takie równoważne rozwiązania, jest zobowiązany wykazać, że oferowane przez niego dostawy i usługi spełniają wymagania określone przez Zamawiającego. Jeżeli w opisie przedmiotu zamówienia lub gdziekolwiek w SIWZ pojawia się znak towarowy lub powołanie na patent lub pochodzenie elementów zamówienia, Zamawiający dopuszcza zastosowanie przez Wykonawcę elementów równoważnych, tzn. posiadających parametry wystarczające do osiągnięcia wydajności, przepustowości oraz pozostałych wymienionych funkcjonalności dotyczących przedmiotu zamówienia, wynikających z SIWZ i załączonych do niej dokumentów. Gdziekolwiek w opisie przedmiotu zamówienia występują odniesienia do Polskich Norm, dopuszczalne jest stosowanie odpowiednich norm krajów Unii Europejskiej, w zakresie przyjętym przez polskie prawodawstwo.

Dostawa wysokorozdzielczego skaningowego mikroskopu elektronowego z emisją polową (HR-FE-SEM) wraz systemem cryo na potrzeby realizacji projektu Cent…

Informiere dich täglich über neue Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes

Informiere dich täglich über neue
Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes