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Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskops

Beschafft werden soll ein Rasterelektronenmikroskop zur Nanoanalytik mit folgenden Spezifikationen: 1 Beschleunigungsspannung von 100 V bis 30 kV 2 Gleichzeitig nutzbare Sekundärelektronendetektoren und Rückstreudetektoren 3 Laterale Auflösung: 1 nm zwischen 1 kV und 30 kV, 1.5 nm unter 1 kV für Proben im magnetfeldfreien Raum 4 Strahlstrom 5 pA – 10 nA mit Stabilität +/- 0.3 % über 1 Stunde 5 60 o kipp- und 360 o drehbarer Probenteller 6 Schneller Probenwechsel (< 3min) auch für Proben mit Ø > 50 mm 7 EDX-Modul mit Software, Drift-Korrektur und quantitativer Kartierung 8 EBSD inkl. kompletter Software zur Nachbearbeitung, Interpretation und Darstellung der Daten 9 Niedrigvakuum(VP)-Betrieb mit Auflösung < 2 nm (auch < 5 kV) 10 Schnelle Strahlaustastung 11 Benutzerfreundliche Softwaresteuerung, einstellbare Bildspeichertiefe (mindestens 16000 x 16000 Pixel bei höchster Speichertiefe), Windows 10, Netzwerkanschluss 12 Serviceangebote für Wartungen und Reparaturen
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 24.09.2018
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V., Zentrale Beschaffungsstelle
address: Kennedyallee 40
postal_code: 53175
city: Bonn - DE
country: DE
email: None
phone: +49 228885-2474
contact_point: Deutsche Forschungsgemeinschaft
idate: 12. Juni 2020 00:46
udate: 12. Juni 2020 00:46
doc: 372006_2018.xml
authority_types:
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:372006-2018:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Competitive procedure with negotiation
Nuts: None
Veröffentlichung: 25.08.2018
Erfüllungsort: Bonn - DE
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Germany__Bonn__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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