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Rasterelektronenmikroskop in Kombination eines fokussierten Ionenstrahls.

Systemlösung, die einen fokussierten Ionenstrahl (focused ion beam – FIB) in Kombination mit einem Rasterelektronenmikroskop (scanning electron microscope – SEM) bereitstellt. Hauptaufgabengebiete sind die Charakterisierung und Nanostrukturierung von teilweise lithographisch strukturierten und/oder chemisch synthetisierten, sowohl elektrisch leitfähigen wie auch nicht leitfähigen Substraten.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 21.12.2015
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: Friedrich-Schiller-Universität Jena
address: Fürstengraben 1
postal_code: 07743
city: Jena - DE
country: DE
email: None
phone: +49 3641931240
contact_point:
idate: 30. Juni 2020 13:15
udate: 30. Juni 2020 13:15
doc: 382473_2015.xml
authority_types: BODY_PUBLIC
activities: EDUCATION
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:382473-2015:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: DEG03
Veröffentlichung: 30.10.2015
Erfüllungsort: Jena - DE
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Germany__Jena__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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