Updates zu ähnlichen Ausschreibungen erhalten

Integrated Raman/AFM/SNOM.

L’appareil de mesure demandé est un microscope couplé avec un spectromètre Raman, un AFM, et un SNOM. La plupart de nos échantillons étant opaques (épaisseur entre 1 et 50 μm), l’éclairage doit être direct, par le haut ou sur le côté de l’échantillon. La technique a-SNOM nous intéresse car elle permet une meilleure résolution spatiale, ainsi que l’emploi de la TERS (tip enhanced Raman spectroscopy). Les possibilités de microscopie confocale et de polarisation de la lumière (laser) sont également souhaitées. Enfin, nous avons besoin de deux sources laser pour la spectroscopie Raman (532 et 785 nm). Pour plus de détails voir le cahier des charges.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 26.01.2012
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Not specified
Vergabestelle:
name: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich Institut für Baustoffe
address: Schafmattstrasse 6
postal_code: 8093
city: Zürich - CH
country: CH
email: None
phone: None
contact_point:
idate: 12. Juni 2020 10:23
udate: 12. Juni 2020 10:23
doc: 391564_2011.xml
authority_types: BODY_PUBLIC
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:391564-2011:TEXT:FR:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supply contract
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 15.12.2011
Erfüllungsort: Zürich - CH
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 CH__Zürich__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

Informiere dich täglich über neue
Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes

×

Geben Sie Ihre E-Mail Adresse an, um ein tägliches Update zu neusten Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes zu erhalten.

Indem Sie fortfahren, stimmen Sie unseren Datenschutz Richtlinien zu und nehmen zur Kenntnis, wie wir Ihre personenbezogenen Daten bearbeiten und Cookies einstellen