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L'équipement visé est un dispositif permettant de recueillir le signal de photoluminescence issu des matériaux et des structures réalisées dans l'Institut Lafayette. Qu'il s'agisse de l'analyse des propriétés des matériaux pour leur optimisation ou de l'analyse du fonctionnement des structures de composants, l'équipement permettra de collecter le signal de photoluminescence sur toute la surface des échantillons jusqu'à une taille de 200 mm. La possibilité de résoudre spatialement pour obtenir une cartographie permet d'évaluer doublement la qualité du procédé, en effet, l'équipement permet la mesure des performances elles-mêmes mais aussi la mesure de leur homogénéité au travers de toute la surface de l'échantillon. L'équipement sera doté d'une ou plusieurs sources laser de longueurs d'onde avec les optiques adaptées permettant une utilisation sur un large panel de matériaux pour faire face aux demandes variées des utilisateurs de l'Institut Lafayette.

Fourniture d'un système de cartographie de photoluminescence pour la plateforme « Institut Lafayette ».

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