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Instrument FIB/SEM selon les documents «Combined Focused Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscope (FIB/SEM) device» et «AN-43-14-18_Specific…

Offre pour une machine FIB/MEB avec blindage pour la fabrication de très petits échantillons, en combinaison avec un microscope électronique à balayage, selon AN-43-14-18.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 16.03.2015
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Not specified
Vergabestelle:
name: Paul Scherrer Institut (PSI), Strategischer Einkauf (WTO do not open)
address: OVGA-215
postal_code: 5232
city: Villigen - CH
country: CH
email: None
phone: None
contact_point:
idate: 11. Juni 2020 22:45
udate: 11. Juni 2020 22:45
doc: 406764_2014.xml
authority_types: BODY_PUBLIC
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:406764-2014:TEXT:FR:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supply contract
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 28.11.2014
Erfüllungsort: Villigen - CH
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Switzerland__Villigen__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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