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Système Focused Ion Beam pour l'examen de composants de semi-conducteurs et de composants électroniques.

Indication des voies de recours: conformément à l'art. 30 LMP, la présente publication peut être attaquée, dans un délai de 20 jours à compter de sa notification, auprès du tribunal administratif fédéral, case postale, 9023 Saint-Gall. Le mémoire de recours, à présenter en 2 exemplaires, indiquera les conclusions, motifs et moyens de preuve et portera la signature de la partie recourante ou de son mandataire; y seront jointes une copie de la présente publication et les pièces invoquées comme moyens de preuve, lorsqu'elles sont disponibles. Publication de référence nationale: Simap de la 8.12.2014, doc. 847357.

CPV-Code:

38512100

Abgabefrist:

Typ:

Contract award

Status:

Not applicable

Aufgabe:

Not specified

Vergabestelle:

name:	Eidg. Materialprüfungs – und Forschungsanstalt Empa
address:	Ueberlandstrasse 129
postal_code:	8600
city:	Dübendorf - CH
country:	CH
email:	None
phone:	None
contact_point:
idate:	10. Juni 2020 19:15
udate:	10. Juni 2020 19:15
doc:	419976_2014.xml
authority_types:	BODY_PUBLIC
activities:

Quelle:

http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:419976-2014:TEXT:FR:HTML

Unterlagen:

None

Zuschlagskriterium:

Not specified

Vertrag:

Supply contract

Prozedur:

Open procedure

Nuts:

None

Veröffentlichung:

10.12.2014

Erfüllungsort:

Dübendorf - CH

Link:

Lose:

Name	Los Nr 1 None
Gewinner	FEI Europe B.V., Eindhoven, Zweigniederlassung Zürich
Datum
Wert	None
Anzahl Angebote	2

Système Focused Ion Beam pour l'examen de composants de semi-conducteurs et de composants électroniques.

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