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Rasterkraftmikroskop im Rahmen des Sonderforschungsbereiches 986 „M3 – Maßgeschneiderte Multiskalige Materialsysteme“. …

Das Raster-Kraftmikroskop wird zur elektrochemischen Analysen in-situ in einer elektrochemischen Umgebung bei gleichzeitiger Regelung der Temperatur bis mindestens 50°C eingesetzt. Ebenso werden in den beschriebenen Mess-Modi bei einer Temperaturregelung bis mindestens 50°C mit einer Einstellung der Atmosphärenfeuchtigkeit Messungen ermöglicht, wobei die dazu nötige Regelungstechnik beinhalten ist. Durch eine offene Hard- und Softwarestruktur wird es ermöglicht, eigene Skripte zu implementieren sowie externes Equipment zu kontrollieren. Zur Reduzierung von Schwingungen besitzt der Aufbau eine akustische Isolierung, sowie einen aktiven schwingungsdämpfenden Tisch. An die Scanner des Rasterkraftmikroskops werden bei der Beschaffung folgende Bedingungen gestellt: — Minimaler Scan-Bereich, AFM Scanner (x,y): 80 μm × 80 μm, — Minimaler Scan-Bereich, AFM Scanner (z): 13 μm, — Auflösung AFM Scanner lateral (x,y): Rauschen < 0.15 nm RMS, — Höhenauflösung, AFM Scanner (z): Rauschen < 65 pm RMS.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist:
Typ: Contract award notice
Status: Not applicable
Aufgabe: Education
Vergabestelle:
name: Technische Universität Hamburg-Harburg
address: Am Schwarzenberg-Campus 1
postal_code: 21073
city: Hamburg - DE
country: DE
email: None
phone: None
contact_point:
idate: 12. Juni 2020 19:38
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doc: 438119_2017.xml
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activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:438119-2017:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Negotiated without a prior call for competition
Nuts: None
Veröffentlichung: 03.11.2017
Erfüllungsort: Hamburg - DE
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 None
Gewinner JPK Instruments AG
Datum
Wert None
Anzahl Angebote 3

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