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Ionenfeinstrahlanlage (FIB-SEM)

Diese Ausschreibung dient der Beschaffung einer Ionenfeinstrahlanlage mit integriertem Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM), wobei der Fokus klar auf der Ionenfeinstrahlfunktionalität liegt und die Elektronenmikroskopie lediglich eine unterstützende Rolle einnimmt. Beschafft werden soll ein Gerät, welches möglichst gut für Nanopatterning-Anwendungen geeignet ist. Analytische Funktionalität ist wünschenswert, aber gegenüber der Strukturfertigung von untergeordneter Bedeutung. Unsere genauen Anforderungen an das Gerät können der Leistungsbeschreibung entnommen werden.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 19.09.2022
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Education
Vergabestelle:
name: Technische Universität München, TUM Zentrum für QuantumEngineering
address: None
postal_code:
city: Garching - DE
country: DE
email: None
phone: None
contact_point:
idate: 29. August 2022 08:12
udate: 29. August 2022 08:12
doc: 446852_2022.xml
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:446852-2022:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: https://www.dtvp.de/Satellite/notice/CXP4YK0R19G/documents
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 16.08.2022
Erfüllungsort: Garching -
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Germany__Garching__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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