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Xenonbasiertes Focused Ion Beam Rasterelektronen-Mikroskop (FIB-REM) mit integrierter RAMAN-Spektroskopie

Focused-Ion-Beam-Rasterelektronenmikroskop mit folgenden Komponenten: Ionenquelle: Xe-Plasma-Ionenstrahlsystem (PFIB) zum schnellen Bearbeiten großer Bereiche (bis zu 1 mm Breite), 3D-Tomographie-Software zur automatisierten 3D-Datenerfassung und Visualisierung, Analysesystem EDX-EBSD-3D, RAMAN-Mikroskop, Anlagen zur Probenpräparation.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist:
Typ: Contract award notice
Status: Not applicable
Aufgabe: Education
Vergabestelle:
name: Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik
address: Egerlandstr. 7-9
postal_code: 91058
city: Erlangen - DE
country: DE
email: None
phone: None
contact_point: Kraml, Robert
idate: 1. Oktober 2020 06:04
udate: 1. Oktober 2020 06:04
doc: 449802_2020.xml
authority_types:
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:449802-2020:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: Lowest price
Vertrag: Supplies
Prozedur: Negotiated without a prior call for competition
Nuts: None
Veröffentlichung: 25.09.2020
Erfüllungsort: Erlangen -
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 None
Gewinner TESCAN GmbH
Datum
Wert 1,00 €
Anzahl Angebote 1

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