Microscope électronique à balayage (analytical SEM).

EPFL beabsichtigt ein Rasterelektronenmikroskop für das Elektroenemikroskopiezentrum CIME anzuschaffen. Mit dem neuen Mikroskop sollen Mikro- und Nano-Strukturen, die chemische Zusammensetzung sowie die Topographie von Proben im Gebiet der Chemie und Materialwissenschaften untersucht werden. Der Bereich der zu untersuchenden Proben umfasst Halbleiter, Metalle, Isolatoren (wie z. B. Keramiken, Gläser und Verbundwerkstoffe), strahlempfindliche Materialien (Kunststoffe, organische Proben etc.), einzelen und in Kombination. Das Mikroskop soll einer großen Zahl von Benutzern zugänglich sein. Diese sollen mit möglichst großer Effizienz (hoher Durchsatz und große Stabilität) an ihren Proben arbeiten können. Da häufig eine große Anzahl Proben in einer Sitzung untersucht werden müssen soll das Mikroskop eine hohe mechanische und elektrische Stabilität aufweisen und mit einem EDX System mit hoher Empfindlichkeit und maximaler Zählrate ausgerüstet sein. Alle Aufgaben sollen über ein ...
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 26.01.2017
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: École Polytechnique Fédérale de Lausanne Vice-présidence pour les affaires académiques
address: BI A2 453 (Bâtiment BI) Station 7
postal_code: 1015
city: Lausanne - CH
country: CH
email: None
phone: None
contact_point: Jérôme Butty
idate: 28. Juni 2020 23:04
udate: 28. Juni 2020 23:04
doc: 456693_2016.xml
authority_types:
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:456693-2016:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: CH0
Veröffentlichung: 23.12.2016
Erfüllungsort: Lausanne - CH
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Switzerland__Lausanne__
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None