Updates zu ähnlichen Ausschreibungen erhalten

Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido con FIB (Focused Ion Beam), sistema de análisis por rayos X y sistema de ablación m…

Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el pliego de prescripciones técnicas.
CPV-Code: 38511100 38636100
Abgabefrist:
Typ: ContractAwardNotice
Status: None
Aufgabe: None
Vergabestelle:
name: Secretaría General de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas
address:
postal_code: 28006
city: Madrid - ES
country: ES
email: sgoi@csic.es
phone: 915681781
contact_point: Secretaría General de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas 915681781 sgoi@csic.es
idate: 13. Oktober 2025 07:53
udate: 13. Oktober 2025 07:53
doc:
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/00670373-2025
Unterlagen: https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/00670373-2025
Zuschlagskriterium: quality
Vertrag: None
Prozedur: None
Nuts: None
Veröffentlichung: 24.09.2025
Erfüllungsort: Madrid - ES
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 TEN-0001
Gewinner CARL ZEISS IBERIA SL
Datum
Wert 1 699 500,00 €
Anzahl Angebote 1

Informiere dich täglich über neue
Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes

×

Geben Sie Ihre E-Mail Adresse an, um ein tägliches Update zu neusten Ausschreibungen zum Thema Scanning electron microscopes zu erhalten.

Indem Sie fortfahren, stimmen Sie unseren Datenschutz Richtlinien zu und nehmen zur Kenntnis, wie wir Ihre personenbezogenen Daten bearbeiten und Cookies einstellen