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I06 Aberration Corrected PEEM/LEEM Microscope

Our technical specification details the requirements of the Aberration Corrected PhotoEmission Electron Microscope (AC-PEEM) and Low Energy Electron Microscope (AC-LEEM) for use on the Nanoscience beamline at DLS. The microscope will be installed on the nanoscience I06 beamline that is dedicated to the study of nanomagnetism and nanostructures using element specific probes such as X-Ray absorption spectroscopy and X-Ray photoelectron spectroscopy. The variable polarisation state of the x-ray light provides a contrast mechanism for imaging different magnetisation states in ferromagnetic and anti-ferromagnetic nanostructures. The contractor will be responsible for the supply of materials, manufacture, inspection, cleaning, testing, vacuum baking, assembly, packing, delivery and installation at DLS of the AC-PEEM/LEEM complete microscope.
CPV-Code: 38510000
Abgabefrist: 08.01.2019
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: Diamond Light Source Ltd
address: Diamond House, Harwell Science and Innovation Campus
postal_code: OX11 0DE
city: Didcot - UK
country: UK
email: None
phone: +44 1235778167
contact_point: Sue Blake
idate: 11. Juni 2020 01:22
udate: 11. Juni 2020 01:22
doc: 534383_2018.xml
authority_types:
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:534383-2018:TEXT:EN:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 05.12.2018
Erfüllungsort: Didcot - GB
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 United Kingdom__Didcot__Mikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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