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Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens

A high resolution field emission scanning electron microscope (SEM) equipped with a focused ion beam (FIB) for serial block face and section imaging of plastic embedded biological specimens.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 07.12.2020
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Other
Vergabestelle:
name: University of Helsinki
address: PL 4 (yliopistonkatu 3), Helsingin yliopisto
postal_code: 00014
city: Helsinki - FI
country: FI
email: None
phone: None
contact_point:
idate: 1. Dezember 2020 06:36
udate: 1. Dezember 2020 06:36
doc: 539551_2020.xml
authority_types:
activities:
Quelle: http://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:539551-2020:TEXT:EN:HTML
Unterlagen: https://hanki.tarjouspalvelu.fi/hanki?id=319553&tpk=89594a35-4626-4427-8206-032228510f83
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 11.11.2020
Erfüllungsort: Helsinki -
Link:
Lose:
Name Los Nr 1
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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