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Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern

Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 03.04.2024
Typ: Lieferleistungen
Status: Verhandlungsverfahren mit öffentlichem Teilnahmewettbewerb
Aufgabe: None
Vergabestelle:
name: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
address: None
postal_code:
city: Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie ISIT , - DE
country: DE
email: None
phone: None
contact_point: None
idate: 5. März 2024 12:03
udate: 5. März 2024 12:03
doc:
authority_types:
activities:
Quelle: https://www.service.bund.de/IMPORTE/Ausschreibungen/ai-ag-prod/2024/03/54321-Tender-18df56ebd49-4b9807f5b4bdccee.html
Unterlagen: https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/PublicationControllerServlet?function=Detail&TWOID=54321-Te…
Zuschlagskriterium: None
Vertrag: None
Prozedur: Dienst- und Lieferleistungen (VOL)
Nuts: None
Veröffentlichung: 04.03.2024
Erfüllungsort: Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie ISIT , - DE
Link: https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/PublicationControllerServlet?function=Detail&TWOID=54321-Tender-18df56ebd49-4b9807f5b4bdccee&PublicationType=0
Lose:
Name Los Nr 1 Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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