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Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspectio…

Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 27.05.2025
Typ: Forschung und Entwicklung
Status: Verhandlungsverfahren mit öffentlichem Teilnahmewettbewerb
Aufgabe: None
Vergabestelle:
name: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
address: None
postal_code:
city: Fraunhofer IMWS CAM - DE
country: DE
email: None
phone: None
contact_point: None
idate: 29. April 2025 11:02
udate: 29. April 2025 11:02
doc:
authority_types:
activities:
Quelle: https://www.service.bund.de/IMPORTE/Ausschreibungen/ai-ag-prod/2025/04/54321-Tender-19643014ade-2541effd6833e555.html
Unterlagen: https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/PublicationControllerServlet?function=Detail&TWOID=54321-Te…
Zuschlagskriterium: None
Vertrag: None
Prozedur: Dienst- und Lieferleistungen (VOL)
Nuts: None
Veröffentlichung: 28.04.2025
Erfüllungsort: Fraunhofer IMWS CAM - DE
Link: https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/PublicationControllerServlet?function=Detail&TWOID=54321-Tender-19643014ade-2541effd6833e555&PublicationType=0
Lose:
Name Los Nr 1 Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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