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Ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit integrierter Prototypenentwicklung im Nanometerbereich

The following requirements are placed on this scanning electron microscope: - Ultra-high resolution image acquisition of molecular solids and non-conducting nanomaterials. - Defect analysis of nanoscale devices - Electron beam lithography (EBL) for nanostructuring of nanooptoelectronic devices - Future integration of electron beam induced deposition and etching platform for nanofabrication - Future integration of measurement devices that enable in situ characterization at the nanometer scale, as would be electrical measurements and atomic force microscopy.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 27.12.2021
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Education
Vergabestelle:
name: ETH Zürich Abteilung Finanzdienstleistungen Einkaufskoordination
address: Scheuchzerstrasse 68/70
postal_code: 8092
city: Zürich - CH
country: CH
email: None
phone: None
contact_point:
idate: 22. November 2021 13:21
udate: 22. November 2021 13:21
doc: 596282_2021.xml
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:596282-2021:TEXT:EN:HTML
Unterlagen: http://www.simap.ch/shabforms/servlet/Search?NOTICE_NR=1229733
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 22.11.2021
Erfüllungsort: Zürich -
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Switzerland__Zürich__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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