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Ionenfeinstrahlanlage (FIB-SEM)

This call for tenders was for the procurement of a Focussed Ion Beam System with integrated Scanning Electron Microscope (FIB-SEM), with priority on the Focussed Ion Beam functionality and electron microscopy only in a supporting role. The instrument must be optimised for nanopatterning applications. Analytical functions are desirable, but on a lower priority level. The offered instrument must be a turn-key solution.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist:
Typ: Contract award notice
Status: Not applicable
Aufgabe: Education
Vergabestelle:
name: Technische Universität München
address: Arcisstr. 21
postal_code: 80333
city: München - DE
country: DE
email: None
phone: +49 8928914720
contact_point: Prof. Dr. Christan Pfleiderer
idate: 7. November 2022 09:23
udate: 7. November 2022 09:23
doc: 614246_2022.xml
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:614246-2022:TEXT:EN:HTML
Unterlagen: None
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 07.11.2022
Erfüllungsort: München -
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 None
Gewinner Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH
Datum
Wert 1 066 982,00 €
Anzahl Angebote 2

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