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Inline automatic optical inspection (AOI) with high-speed Analysis for QMI systems

Modular, fully automated prober for optical inspection and electrical contact of electronic, photonic and mi-cro‑mechanical devices — including advanced manufacturing approaches such as quasi‑monolithic integration. The system handles 200 mm wafers as well as frames, tapes, trays and comparable substrates. An end‑to‑end carrier handling system loads carriers with mounted substrates from specialized cassettes, positions them on the prober's vacuum chuck and performs fully automated alignment. A testcard/probe‑card interface is provided for electrical connection. Probe detection and fine positioning are performed automatically to ensure reproducible contact conditions. The control software supports program-mable sequence control and reference‑point based alignment. For optical inspection the system offers a movable mechanical interface to accept modular, customer‑supplied optical inspection modules (e.g., microscope with camera) with lateral and vertical adjustment. The space above the p
CPV-Code: 42900000
Abgabefrist: 01.03.2026
Typ: ContractNotice
Status: None
Aufgabe: None
Vergabestelle:
name: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.
address: Am Wolfsmantel 33 Erlangen
postal_code: 91058
city: Erlangen - DE
country: DE
email: einkauf@iis.fraunhofer.de
phone: +49 91317762230
contact_point: +49 91317762230 einkauf@iis.fraunhofer.de
idate: 20. Februar 2026 09:11
udate: 20. Februar 2026 09:11
doc:
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/00120586-2026
Unterlagen: http://www.deutsche-evergabe.de/dashboards/dashboard_off/e917ef94-b200-4c6f-bfe2-502a2470125b
Zuschlagskriterium: price
Vertrag: None
Prozedur: vgv
Nuts: None
Veröffentlichung: 19.02.2026
Erfüllungsort: Erlangen - DE
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 None
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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