Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM)

Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM)
CPV-Code: 38512100
Abgabefrist: 25.01.2022
Typ: Contract notice
Status: Submission for all lots
Aufgabe: Education
Vergabestelle:
name: Vergabeplattform DTVP
address: https://www.dtvp.de/Center/company/login.do
postal_code: 00000
city: Vergabeplattform DTVP - DE
country: DE
email: None
phone: +49 64212826125
contact_point: Bitte verwenden Sie für die Kommunikation ausschließlich die Nachrichten-Funktion der Vergabeplattform
idate: 24. Dezember 2021 11:40
udate: 24. Dezember 2021 11:40
doc: 659946_2021.xml
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/udl?uri=TED:NOTICE:659946-2021:TEXT:DE:HTML
Unterlagen: https://www.dtvp.de/Satellite/notice/CXS0YDFYYMU/documents
Zuschlagskriterium: The most economic tender
Vertrag: Supplies
Prozedur: Open procedure
Nuts: None
Veröffentlichung: 24.12.2021
Erfüllungsort: Marburg -
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 Germany__Marburg__Ionenmikroskope
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None